Opto Edu A61.4510 Taramalı Tünel Açma Elektron Mikroskobu Sabit Yükseklik Akım Modu
-
Vurgulamak
opto edu taramalı tünelleme elektron mikroskobu
,sabit yükseklik taramalı tünelleme elektron mikroskobu
,mevcut mod opto edu mikroskobu
-
Çalışma modu"Sabit Yükseklik Modu Sabit Akım Modu"
-
Mevcut Spektrum Eğrisi" IV Eğrisi Akım-Mesafe Eğrisi"
-
XY Tarama Aralığı5×5um
-
XY Tarama Çözünürlüğü0.05Nm
-
Z Tarama Aralığı1um
-
Y Tarama Çözünürlüğü0.01 nm
-
tarama hızı0.1Hz~62Hz
-
Tarama açısı0~360°
-
Örnek boyut"Φ≤68mm H≤20mm"
-
XY Sahne Hareketli15×15mm
-
Şok Emici Tasarımyaylı süspansiyon
-
Optik Sistem1~500x Sürekli Yakınlaştırma
-
ÇıktıUSB2.0/3.0
-
YazılımXP/7/8/10 kazanın
-
Menşe yeriÇin
-
Marka adıOPTO-EDU
-
SertifikaCE, Rohs
-
Model numarasıA61.4510
-
belge
-
Min sipariş miktarı1 bilgisayar
-
FiyatFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Ambalaj bilgileriİhracat Taşımacılığı İçin Karton Ambalaj
-
Teslim süresi5~20 Gün
-
Ödeme koşullarıL/C, Western Union, T/T, MoneyGram
-
Yetenek temini5000 Adet/ Ay
Opto Edu A61.4510 Taramalı Tünel Açma Elektron Mikroskobu Sabit Yükseklik Akım Modu
Tarama tünel mikroskopu
◆ Minyatür ve çıkarılabilir tasarım, taşıması çok kolay ve sınıf öğretimi
◆ Algılama kafası ve numune tarama aşaması entegre edilmiştir, yapı çok kararlıdır ve parazit önleyici güçlüdür
◆ Tek eksenli sürücü numunesi, iğne ucunun numune taramasına dik olması için otomatik olarak proba dikey olarak yaklaşır
◆ Motor kontrollü basınçlı piezoelektrik seramik otomatik algılamanın akıllı iğne besleme yöntemi, probu ve numuneyi korur
◆ Yan CCD gözlem sistemi, prob iğnesi yerleştirme durumunun gerçek zamanlı gözlemi ve prob numunesi tarama alanının konumlandırılması
◆ Yaylı süspansiyon darbeye dayanıklı yöntem, basit ve pratik, iyi darbeye dayanıklı etki
◆ Entegre tarayıcı doğrusal olmayan düzeltme kullanıcı editörü, nanometre karakterizasyonu ve ölçüm doğruluğu %98'den daha iyi
| A61.4510 | |
| Çalışma modu | Sabit Yükseklik Modu Sabit Akım Modu |
| Mevcut Spektrum Eğrisi | IV Eğrisi Akım-Mesafe Eğrisi |
| XY Tarama Aralığı | 5×5um |
| XY Tarama Çözünürlüğü | 0.05nm |
| Z Tarama Aralığı | 1um |
| Y Tarama Çözünürlüğü | 0.01 nm |
| Tarama Hızı | 0.1Hz~62Hz |
| Tarama Açısı | 0~360° |
| Örnek boyut | Φ≤68mm H≤20mm |
| XY Sahne Hareketli | 15×15mm |
| Şok Emici Tasarım | Yaylı süspansiyon |
| Optik Sistem | 1~500x Sürekli Yakınlaştırma |
| Çıktı | USB2.0/3.0 |
| Yazılım | XP/7/8/10 kazanın |
| Mikroskop | Optik mikroskop | Elektron mikroskobu | Taramalı Prob Mikroskobu |
| Maksimum Çözünürlük (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Açıklama | Yağa daldırma 1500x | Elmas karbon atomlarını görüntüleme | Yüksek dereceli grafit karbon atomlarını görüntüleme |
|
|
|
| Prob-Numune Etkileşimi | Ölçüm Sinyali | Bilgi |
| Kuvvet | Elektrostatik kuvvet | Şekil |
| Tünel Akımı | Akım | Şekil, İletkenlik |
| Manyetik Kuvvet | Evre | Manyetik Yapı |
| Elektrostatik kuvvet | Evre | yük dağılımı |
| Çözünürlük | Çalışma şartı | Çalışma Temperleme | Numune Hasarı | Muayene Derinliği | |
| SPM | Atom Seviyesi 0.1nm | Normal, Sıvı, Vakum | Oda veya Düşük Sıcaklık | Hiçbiri | 1~2 Atom Seviyesi |
| TEM | Nokta 0.3~0.5nm Kafes 0.1~0.2nm |
Yüksek Vakum | Oda Sıcaklığı | Küçük | Genellikle <100nm |
| SEM | 6-10nm | Yüksek Vakum | Oda Sıcaklığı | Küçük | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atom Seviyesi 0.1nm | Süper Yüksek Vakum | 30~80K | hasar | Atom Kalınlığı |
Ürünlerimiz tüm dünyada satılmaktadır. Ürünlerimizin tüm sürecinden emin olabilirsiniz.